扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）作为一款高效的显微成像工具，凭借制样简单、适用性强等特点成为应用最广泛的一类仪器。SEM成像原理是用聚焦的高能电子束扫描样品表面，产生各种特征信号，然后加以收集和处理从而获得微观形貌放大像或其它信息。与其他仪器相比，SEM具备分辨率高、图像景深大，富有立体感、试样制备简单、可同步进行试样微区元素分析和组织分析等特点，在各个领域都有广泛的应用。

        目前，中心拥有一台高分辨场发射扫描电子显微镜ZEISS GenminiSEM360，已对外开放共享，价格优惠，欢迎广大科研人员使用或咨询。